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產(chǎn)品資料
產(chǎn)品[

ZH-4511L 顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀 美國(guó) 型號(hào):ZH-4511L

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產(chǎn)品名稱: ZH-4511L 顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀 美國(guó) 型號(hào):ZH-4511L
產(chǎn)品型號(hào): ZH-4511L
產(chǎn)品展商: 國(guó)產(chǎn)
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簡(jiǎn)單介紹

ZH-4511L 顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀 美國(guó) 型號(hào):ZH-4511L 顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀**應(yīng)用于**電子和機(jī)械類產(chǎn)品的設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)、測(cè)試和程序改進(jìn)。

ZH-4511L 顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀 美國(guó) 型號(hào):ZH-4511L

的詳細(xì)介紹
顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀 美國(guó) 
型號(hào):ZH-4511L
貨號(hào):ZH3141

產(chǎn)簡(jiǎn):  
顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀**應(yīng)用于**電子和機(jī)械類產(chǎn)品的設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)、測(cè)試和程序改進(jìn)。
顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀(SD PIND)用于電子元器件封裝后,對(duì)器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測(cè)試驗(yàn),目的在于檢測(cè)器件封裝腔體內(nèi)存在的多余粒子,是一種非破壞性實(shí)驗(yàn)。
顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀適用范圍:用于檢測(cè)集成電路、繼電器、半導(dǎo)體分立器件、光電器件等電子
元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒,即PIND試驗(yàn)。
雙面聲藕合膠片和聲藕合膠水是用于顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀實(shí)驗(yàn)時(shí)使用的。
標(biāo)準(zhǔn):MIL-STD883E, MIL-STD750, and MIL-STD39016和國(guó)軍標(biāo)。

指標(biāo):
型 號(hào):ZH-4511L、ZH-4511L-R
組 成:控制儀、振動(dòng)臺(tái)、示波器、傳感器等
載荷:400g(25Hz~250Hz)、500g(60Hz時(shí))
沖擊加速度:100g~3000g、100g~800g
振動(dòng)頻率:25Hz~250Hz
振動(dòng)加速度:0.1g~25.5g
噪聲傳感器靈敏度:-77.5±3(DBD)relv(1bar,155kHz)
外形尺寸(高×寬×深):主機(jī)250mm×650mm×450mm
 

http://www.centrwin.com/ProductSearch.aspx?id=3141
ZH-4511L    顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀 美國(guó)   型號(hào):ZH-4511L
 
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